天星ED-400型渦流測厚儀

 ED-400型渦流測厚儀是ED-300型測厚儀的改進型，儀器性能顯著提高。

   儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。

        儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。

        天星渦流測厚儀自1993年開始生產(chǎn)以來，伴隨著我國鋁加工行業(yè)的成長，其自身也在不斷改進和提高，目前，已生產(chǎn)了ED-200型、ED-300型和ED-400型三代產(chǎn)品， ED-400型渦流測厚儀是最新一代產(chǎn)品，其產(chǎn)品質(zhì)量和測試精度達到國外儀器水平，其耐用性非常突出，超過國內(nèi)外儀器。天星測厚儀以良好的質(zhì)量，及時、優(yōu)質(zhì)、低費用的售后服務得到用戶的廣泛贊譽和認可，天星測厚儀在鋁型材行業(yè)的市場占有率超過90%，成為該行業(yè)的名牌產(chǎn)品。

儀器特點

ED-400型渦流測厚儀與ED-300型相比，具有如下特點：

● 量程寬-    ED-400型渦流測厚儀量程達到0～500 μm。

● 精度高-    測量精度達到2%。

● 分辨率高-    分辨率達到0.1 μm

● 校正簡便-    只校正“0”和“50 μm”兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設計精度。

● 基體導電率影響小-   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2 μm。

● 可靠性提高-   采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。

● 穩(wěn)定性提高-   采用先進的溫度補償技術，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。

● 探頭芯壽命長-   采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。

技術參數(shù)

標準配置:

主機           

探頭           

基體（6063鋁合金）

校正箔片   一套4片（附檢測報告）

儀器箱

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。

可選附件:

備用探頭

基體

校正箔片（附檢測報告）